Medidores de LCR-ESR (Inductancia, Capacitancia y Resistencia) Hioki
Descripción
Medidor de resistencia portátil de Alta precisión. Rango de 0.1µΩ a 3.5MΩ y memoria interna
código: RM3548
Características
Medidor de Resistencia Portátil 0.1µΩ a 3.5MΩ - Hioki RM3548
- Alta precisión: 0.02%
- Resolución máxima: 0.1µΩ
- Corriente máxima: 1A
- Rango de resistencia: 0.1µΩ (@1A) a 3.5MΩ
- Memoria interna de 1,000 puntos. Guarde fácilmente los datos de medición simplemente colocando las puntas de prueba
- Captura suave de datos de incremento de temperatura usando mediciones por intervalos
- Forma Portátil y compacta ideal para mantenimiento y prueba de resistencia en equipos industriales
Qué Incluye:
- 1x RM3548 Hioki Medidor de Resistencia
- 1x L2107 Cable de prueba con puntas clip
- 1x Z2002 Sensor de temperatura
- 8x Pilas AA
- 1x Manual de usuario
- 1x Cable USB
- 1x Correa
- 1x Fusible Extra
Hacienda la Muralla #136, CP. 76180
Jardines de la Hacienda. Querétaro, México.
Jardines de la Hacienda. Querétaro, México.
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2024-11-21 | www.cedesa.com.mx
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• Todos los certificados de calibración incluidos de fábrica en los equipos que así lo indiquen tienen como finalidad mostrar que el equipo está dentro de los parámetros de medida especificados, no son un servició de certificación “en si”.
Al momento de ser surtido un instrumento que incluye certificado de calibración de fábrica estos certificados pueden tener menos de un año de vigencia o incluso estar caducos debido a los tiempos de almacenamiento y distribución. Esto no demerita el objetivo original para lo que el documento fue incluido en el equipo ni obliga a los fabricantes o al distribuidor a suministrar un nuevo certificado en caso de que el incluido en el equipo surtido este caduco.
Si requiere certificados con vigencia de un año, con datos de los parámetros calibrados y emitidos con información personalizada de su empresa, así como con trazabilidad a patrones nacionales del CENAM (México) y acreditación EMA, debe solicitarlos como un servicio con costo y por separado.
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