Diagnóstico de Tarjetas Electrónicas
Módulos SYSTEM 8.
La solución perfecta para todas sus necesidades de prueba...
La gama de instrumentos SYSTEM 8 está constituida de módulos que pueden ser combinados para adaptarse a una amplia variedad de aplicaciones de prueba.
Los módulos requieren una PC y el software “SYSTEM 8 ULTIMATE” para ser controlados y se pueden montar en una bahía libre de CD/DVD mediante una interfaz PCI universal.
Adicionalmente los módulos pueden instalarse en una caja externa con una interfaz USB.
Los módulos disponibles son:
Módulo BFL (Board Fault Locator)
Localización de Fallas en Tarjetas
Se trata de un sistema básico, diseñado para pruebas de Circuitos Integrados (CIs) digitales.
Con 64 canales de prueba, ofrece capacidades de diagnóstico completo de fallas. También incluye pruebas funcionales de Circuitos Integrados digitales (Dentro del circuito y Fuera del circuito), estado de las conexiones de CIs y adquisición de voltaje junto con una función de curva V-I que permite realizar pruebas de componentes sin necesidad de aplicar alimentación a la tarjeta.
Hasta 4 módulos pueden interconectarse para ofrecer 256 canales de prueba.
Módulo AICT (Analogue IC Tester)
Probador de Circuitos Integrados Analógicos
El probador de CIs analógicos permite hacer pruebas funcionales dentro del circuito (pruebas in-circuit) de circuitos integrados analógicos y componentes discretos.
Todos los dispositivos análogos comunes pueden ser probados mientras están siendo configurados en la tarjeta de circuitos impresos (PCB) sin necesidad de programación o de referirse a los diagramas de circuito.
El AICT también incluye un probador V-I completo y configurable para la detección de fallas en tarjetas sin alimentación mediante resultados gráficos claros y fáciles de entender.
Módulo ATS (Analogue Test Station)
Estación Analógica de Pruebas
Para los usuarios que requieren la identificación y prueba de dispositivos analógicos pero que no necesitan hacer pruebas funcionales, el módulo ATS es una opción rentable y efectiva. Es un probador V-I analógico.
El módulo Estación Analógica de Pruebas ofrece 24 canales más 2 canales discretos para circuitos integrados y componentes discretos. Para pruebas avanzadas también dispone de salidas de pulso y el modo Matrix.
Módulo MIS4 (Multiple Instrument Station)
Estación de Instrumentos Múltiple
La estación de instrumentos múltiple proporciona un sistema completo de instrumentación tradicional configurable.
Con un total de 8 instrumentos de prueba y medición de alto rendimiento en un solo módulo compacto es ideal para el diseño, la educación o para uso general en mesa de laboratorio y de trabajo.
El modulo MIS está compuesto de un Osciloscopio digital (DSO) de 2 canales, 100MHz; un Multímetro Digital; un Generador de Funciones 10MHz; 2 Fuentes de Poder Auxiliares; Contador de Frecuencia y Entradas/Salidas (Universal I/O) Cuádruples Analógicas y Digitales.
Para hacer más eficaz su utilización, los instrumentos estándar se pueden personalizar o se pueden diseñar nuevos instrumentos para aplicaciones específicas.
La gama de Instrumentos SYSTEM 8
• Pruebas funcionales digitales y analógicas.
• Pruebas power-on y power off.
• Mediciones de un solo punto.
• Procedimientos de prueba automatizados.
• Software Configurable.
• Prestaciones para la gestión de Control de Calidad.
• Instrumentos personalizados.
La gama de instrumentos SYSTEM 8 de ABI Electronics para medición, detección de fallos y prueba de componentes proporciona capacidades sin rival.
Ya sea que se dedique a la verificación de diseños electrónicos, pruebas de producción, pruebas de dispositivo de semiconductores, reparación de productos o mantenimiento, y si sus tarjetas son analógicas, digitales o ambas; los equipos de la gama SYSTEM 8 le proporcionan lo último en herramientas de diagnóstico electrónico.
Módulo VPS (Variable Power Supply)
Fuente de Poder Variable
El módulo Fuente de poder Variable proporciona el voltaje necesario a la unidad bajo prueba.
Sus tres salidas son variables en el voltaje y ofrecen protección contra sobretensión o limitación de corriente. Se controla completamente mediante el software System8 Premier.
Combinaciones de módulos Populares
Combo Diagnostic Solution
(módulo BFL + AICT)
El combo SYSTEM 8 diagnostic solution incluye el módulo de localización de Fallas en Tarjetas (BFL) y el módulo de Prueba de Circuitos Integrados Analógico (AICT). Es la respuesta para abordar los problemas de búsqueda de fallos en tarjetas electrónicas (PCBs).
Tanto para tarjetas analógicas o digitales, los 64 canales analógicos y 24 digitales de prueba de los equipos de este sistema ofrecen una variedad de técnicas de detección de fallos para rastrear las fallas más difíciles.
La Prueba funcional de CIs dentro del circuito es el corazón del sistema: busca en un circuito integrado y comprueba que funciona correctamente; busca fuera del CI y confirma que está conectado correctamente.
Utilice el probador analógico V-I, con pruebas seleccionables de frecuencias, impedancia y tensión, para verificar componentes analógicos. Compare los resultados con una tarjeta conocida en buen estado, automatice los procedimientos de búsqueda de fallos con el generador de secuencias de prueba (TestFlow).
Con todas estas herramientas ¡el diagnóstico de fallas se convierte en algo verdaderamente fácil!
Combo Diagnostic Solution PLUS
(módulo BFL + AICT + VPS)
Agregue a el combo SYSTEM 8 Diagnostic Solution una Fuente de Poder Programable Triple (módulo VPS) para las pruebas de diagnóstico y usted obtiene el combo Diagnostic Solution PLUS.
Esto proporciona el voltaje necesario para alimentar la unidad bajo prueba mediante tres salidas variables: 2.5~6VCD, 5A / 0~24VCD, 1.5A y -24~0VCD, 1.5A
Jardines de la Hacienda. Querétaro, México.
• Aunque el contenido de este sitio web ha sido cuidadosamente revisado y actualizado, las especificaciones, disponibilidad de productos y precios aquí mostrados pueden cambiar sin previo aviso.
• Todas las marcas, fotografías y diseños son propiedad de sus respectivos autores.
• Estamos comprometidos con el uso responsable de la información, consulte nuestra Política de Privacidad.
Si tiene algún comentario acerca de este sitio y su contenido comuníquese con nuestro departamento de desarrollo web.
• (*)La disponibilidad es salvo previa venta. Favor de confirmar existencias y tiempos de entrega.
• Todos los certificados de calibración incluidos de fábrica en los equipos que así lo indiquen tienen como finalidad mostrar que el equipo está dentro de los parámetros de medida especificados, no son un servició de certificación “en si”.
Al momento de ser surtido un instrumento que incluye certificado de calibración de fábrica estos certificados pueden tener menos de un año de vigencia o incluso estar caducos debido a los tiempos de almacenamiento y distribución. Esto no demerita el objetivo original para lo que el documento fue incluido en el equipo ni obliga a los fabricantes o al distribuidor a suministrar un nuevo certificado en caso de que el incluido en el equipo surtido este caduco.
Si requiere certificados con vigencia de un año, con datos de los parámetros calibrados y emitidos con información personalizada de su empresa, así como con trazabilidad a patrones nacionales del CENAM (México) y acreditación EMA, debe solicitarlos como un servicio con costo y por separado.